Tessent In-System Test
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西门子推出 Tessent In-System Test，在硅片全生命周期内实现先进的确定性测试
西门子数字化工业软件日前推出 Tessent In-System Test 软件，作为一款突破性的可测试性设计 (DFT) 解决方案，旨在增强下一代集成电路 (IC) 的系统内测试能力。 Tessent In-System Test 专为解决老化和环境因素等导致的静默数据损坏或错误 (SDC/SDE) 挑战而设计
